Как тестировать энергетические устройства. Часть 2. Окончание

Рисунок 4. Интерфейс настройки многоимпульсного выходного сигнала источника сигнала.

Кроме того, инженеры могут выбирать количество и амплитуду импульсов в многоимпульсном интерфейсе, а также устанавливать время нарастания и спада, а также ширину положительных и отрицательных импульсов для каждого импульса. Интерфейс прост, а логика работы понятна.

Компания Sigstar также предоставляет программное обеспечение для тестирования двухимпульсных осциллографов. Программное обеспечение DPT позволяет сократить количество операций ручного тестирования и эффективно уменьшить время тестирования. Программа предоставляет диапазон результатов тестирования в соответствии со стандартом JEDEC/IEC, а также поддерживает пользовательские параметры тестирования. После завершения тестирования результаты могут быть интуитивно отображены и экспортированы.

Рисунок 5. Пример реальных тестовых сигналов, полученных с помощью программного обеспечения DPT.

Рисунок 6. Интерфейс отображения результатов тестирования.

Четыре решения — анализ мощности

Функция анализа мощности в осциллографах Sigstar позволяет пользователям быстро анализировать эффективность и надежность импульсных источников питания. Она поддерживает широкий спектр измерений и анализов, включая потери при переключении, скорость нарастания сигнала, анализ модуляции и безопасную рабочую область, что позволяет проверять соответствующие параметры силовых устройств, таких как MOSFET-транзисторы.

Для каждого теста в осциллографе имеется подробное руководство по подключению и схема подсказок по подключению. В качестве примера, для потерь при переключении, соответствующие инструкции по подключению показаны на рисунке 7. Инструкции указывают на выбор точки измерения, выбор измерительного оборудования, а также правильное направление измерения и метод настройки.

Рисунок 7. Схема подключения.

В процессе измерения даже относительно небольшие задержки по времени могут вызывать значительные ошибки при измерении потерь при переключении, особенно в фазе проводимости, когда напряжение близко к нулю, и в фазе непроводимости, когда ток близок к нулю. Калибровка задержки по времени может скорректировать задержки осциллографа или щупа и должна быть выполнена один раз перед тестированием; ее также необходимо повторно запустить, если изменяется какая-либо часть настроек оборудования.

В функции анализа мощности область безопасной работы (SOA) может быть автоматически сгенерирована на основе параметров ограничения напряжения, ограничения тока и ограничения мощности, установленных в меню конфигурации, и она может определить, превышает ли нагрузка на MOSFET область безопасной работы, что помогает разработчикам быстро обнаруживать проблемы или потенциальные риски в схеме.

На рисунках 8 и 9 приведены примеры операций по тестированию электрической нагрузки на MOSFET и использованию области безопасной работы для определения безопасности электрической нагрузки.

Рисунок 8. Формы напряжения и тока на МОП-транзисторе во время включения питания.

Рисунок 9. Тестовая панель во время тестирования SOA MOSFET

ВЫВОДЫ

Компания Sigstar Technology предлагает решения для тестирования силовых устройств, среди которых двухимпульсное тестирование является основным методом измерения динамических параметров силовых устройств и позволяет точно характеризовать соответствующие характеристики устройств.

Создание двухимпульсных сигналов для тестирования и связанных с ним параметров всегда было сложной задачей для многих инженеров. Генератор произвольных сигналов SDG1000X Plus от Sigleng Technology предоставляет метод построения многоимпульсных сигналов, которые можно напрямую выбирать в интерфейсе осциллограмм, предлагая пользователям быстрый и удобный способ редактирования импульсных сигналов.

В то же время осциллограф предоставляет приложение DPT (двухимпульсное тестирование), которое позволяет удобно тестировать параметры в двухимпульсном режиме, сокращает время тестирования и предоставляет интуитивно понятные отчеты о результатах тестирования.

Опция анализа мощности в осциллографе также позволяет измерять параметры, связанные с MOSFET, и безопасные рабочие области, что делает тестирование силовых устройств удобным для пользователей.